4.7.1. Начнем с нагрева поверхности - Ашкинази Л.А.

Горячее вещество, как нам известно, испаряется интенсивнее, чем холодное. Испарившиеся молекулы можно анализировать масс-спектрометром (прибором для определения масс молекул), как любые молекулы, имеющиеся в вакууме.

Воздействие метода на объект зависит от того, до какой темпе­ратуры мы будем нагревать образец. Например, если надо исследовать сорбцию газа на металле, то часто нагрев для десорбции газа нужен слабый. Газ десорбируется и анализирует­ся, а нагрев на образец влияет мало. Но если попытаться так же исследовать состав собственной поверхности образца, а не сорбированных газов, то нагрев нужен сильный, и такой нагрев обычно изменяет состав поверхности. В принципе, анализируемая глубина может составлять монослой, так как ис­паряется всегда наружный атом. Анализируемый участок может составлять сотые доли миллиметра. Но чем меньше произ­ведение скорости испарения на площадь, тем меньшее коли­чество анализируемого элемента поступает в анализатор. Ши­рокого распространения метод не получил — при температу­рах, когда скорость испарения велика, материалы обычно не эксплуатируют, а значит, и исследования в таких условиях менее интересны. А вот исследование методом термодесорб­ции сорбированных газов применяется часто. Этим методом удается определять, какой именно газ или смесь газов была сорбирована и какова энергия сорбции, т. е. какую энергию должны иметь атомы, чтобы оторваться от поверхности. 

Можно применять и локальный нагрев маленькой «мол­нией» — микроразрядом (искровая масс-спектроскопия) или лу­чом лазера (лазерная масс-спектроскопия), или электронным лучом. Следует, однако, с огорчением отметить, что глубина кратера при микроразряде или уколе лазерным лучом состав­ляет около 1 мкм, так что методами анализа поверхности эти методы могут быть названы лишь с некоторой натяжкой.